多晶材料X射线衍射(第2版)——实验原理、方法与应用
ISBN:978-7-5024-8841-3
作者:黄继武 李周(编著)
出版时间:2021年5月
最新重印时间:2022年5月
图书定价:45元
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内容简介
本书重点介绍了粉末X射线衍射物相定性分析、定量分析、结晶度、晶胞参数精确测量、晶粒尺寸与微观应变、残余应力计算和Rietveld精修方法的实验原理、实验方法、数据处理操作及实验技巧。
目录
1 X射线衍射仪的操作与数据测量
1.1 粉末X射线衍射仪的基本原理与构造
1.2 X射线辐射防护
1.3 X射线衍射仪使用的注意事项
1.4 多晶衍射样品的制备方法
1.5 测量方式和实验参数的选择
1.6 Rigaku D/max 2500型X射线衍射仪操作实例
2 Jade的基本操作
2.1 Jade的功能
2.2 Jade的用户界面和基本功能操作
2.3 程序设置
2.4 数据文件格式与读入文件
2.5 建立PDF数据库检索文件
2.6 寻峰
2.7 图谱拟合
2.8 打印预览
2.9 多谱操作
2.10 根据d值计算衍射面指数
3 物相定性分析
3.1 物相的含义
3.2 物相检索原理
3.3 ICDD PDF卡片
3.4 PDF卡片的检索与匹配
3.5 物相定性分析的实验方法
3.6 物相定性分析方法的应用
3.7 X射线衍射物相检索的特点和局限性
3.8 指标化
3.9 制作自定义PDF卡片
4 物相定量分析
4.1 质量分数与衍射强度的关系
4.2 K值法定量
4.3 绝热法
4.4 定量分析方法的应用
4.5 结晶度计算方法
5 晶胞参数的精密化计算
5.1 晶胞参数精确计算的原理与误差来源
5.2 内标法
5.3 外标法
5.4 晶胞参数精修的应用方法
6 微结构分析
6.1 材料微结构与衍射峰形的关系
6.2 微结构计算方法
6.3 测量仪器半高宽曲线
6.4 微结构分析的应用
6.5 峰形分析的参数设置
7 残余应力测量
7.1 残余应力的概念
7.2 残余应力的测量原理
7.3 实验方法
7.4 残余应力测量方法的应用
8 Rietveld全谱拟合精修(Jade)
8.1 Rietveld结构精化方法
8.2 全谱拟合精修过程
8.3 物相的读入
8.4 全局变量精修
8.5 物相参数精修
8.6 晶体结构精修
8.7 精修控制
8.8 精修显示与结果输出
8.9 全谱拟合精修的应用
9 Rietveld全谱拟合精修-Maud
9.1 Maud的功能与安装
9.2 刚玉-tPTS精修
9.3 简单精修步骤
9.4 Maud软件的应用方法
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