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多晶材料X射线衍射——实验原理、方法与应用

书名:多晶材料X射线衍射——实验原理、方法与应用
ISBN:978-7-5024-6027-3
作者:黄继武 李周
出版时间:2013年7月
图书定价:38

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普通高等教育本科国家级规划教材

 

内容简介

本书重点介绍了粉末X射线衍射物相定性分析、定量分析、结晶度、晶胞参数精确测量、晶粒尺寸与微观应变、残余应力计算和Rietveld精修方法的实验原理、实验方法、数据处理操作及实验技巧。实用性、可操作性和技巧性是本书的特点。本书内容全面,入门容易,既可作为教材使用,也可作为专业人员的工具书。

 

本书目录

 

1 X射线衍射仪的操作与数据测量

1.1 粉末X射线衍射仪的基本原理与构造

1.2 X射线辐射防护

1.3 X射线衍射仪使用的注意事项

1.4 多晶衍射样品的制备方法

1.5 测量方式和实验参数的选择

1.6 Rigaku D/max 2500型X射线衍射仪操作实例

2 Jade的基本操作

2.1 Jade的功能

2.2 Jade的用户界面和基本功能操作

2.3 程序设置

2.4 数据文件格式与读入文件

2.5 建立PDF数据库检索文件

2.6 寻峰

2.7 图谱拟合

2.8 打印预览

2.9 多谱操作

2.10 根据d值计算衍射面指数

 

3 物相定性分析

3.1 物相的含义

3.2 物相检索原理

3.3 ICDD PDF卡片

3.4 PDF卡片的检索与匹配

3.5 物相定性分析的实验方法

3.6 物相定性分析方法的应用

3.7 X射线衍射物相检索的特点和局限性

3.8 指标化

3.9 制作自定义PDF卡片

 

4 物相定量分析

4.1 质量分数与衍射强度的关系

4.2 K值法定量

4.3 绝热法

4.4 定量分析方法的应用

4.5 结晶度计算方法

 

5 晶胞参数的精密化计算

5.1 晶胞参数精确计算的原理与误差来源

5.2 内标法

5.3 外标法

5.4 晶胞参数精修的应用方法

 

6 微结构分析

6.1 材料微结构与衍射峰形的关系

6.2 微结构计算方法

6.3 测量仪器半高宽曲线

6.4 微结构分析的应用

6.5 峰形分析的参数设置

 

7 残余应力测量

7.1 残余应力的概念

7.2 残余应力的测量原理

7.3 实验方法

7.4 残余应力测量方法的应用

 

8 Rietveld全谱拟合精修(Jade)

8.1 Rietveld结构精化方法

8.2 全谱拟合精修过程

8.3 物相的读入

8.4 全局变量精修

8.5 物相参数精修

8.6 晶体结构精修

8.7 精修控制

8.8 精修显示与结果输出

8.9 全谱拟合精修的应用

 

9 Rietveld全谱拟合精修-Maud

9.1 Maud的功能与安装

9.2 刚玉-tPTS精修

9.3 简单精修步骤

9.4 Maud软件的应用方法

参考文献

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  • 专业分类
    材料科学
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